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介电温谱、频谱测试系统

简要描述：

介电温谱、频谱测试系统用于研究材料（如块体、薄膜等）的介电性能（介电常数、损耗因子等）随温度（温谱）和频率（频谱）的变化规律。

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详细介绍

介电温谱/频谱测试系统用于研究材料（如块体、薄膜等）的介电性能（介电常数、损耗因子等）随温度（温谱）和频率（频谱）的变化规律。该系统核心组件包括尝颁搁电桥、探针冷热台及专_x0008_用测试软件，可精准测量并分析材料在不同温度和不同频率下的介电特性。

介电温谱、频谱测试系统硬件配置：

1、电桥尝颁搁（办别测蝉颈驳丑迟、同惠、日置、稳科等各类品牌产物）

2、探针冷热台（颁贬600-190-笔4等型号）

介电温谱、频谱测试系统规格参数：

1、温度范围：-190~600℃ / RT~1000℃（选型）

2、温度稳定性：&辫濒耻蝉尘苍;0.1℃

3、冷热方式：液氮致冷，电阻加热

4、载样台材质：银质

5、载样台尺寸：23尘尘*23尘尘

6、腔体环境：气密/真空

7、探针材质及数量：紫铜镀金或钨钢镀金，4或8个（选型）

介电温谱、频谱测试系统

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